數(shù)字式四探針測試儀 型號:SZJG01-390127庫號：M390127

一、概述
M-2型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
本測試儀可贈設電池供電，適合手持式變動場合操作！
儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。
二、基本技術參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電 阻： 1.0×10-2 ～ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10 Ω
電 阻 率： 1.0×10-2～ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ～ 0.1 Ω-cm
方塊電阻： 1.0×10-1 ～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10 Ω/□
2. 可測半導體材料尺寸
直 徑： 測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或高）度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等級
量程 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
基本誤差 ±1%FSB±2LSB ±1.5%FSB
±4LSB
4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重：≤0.5kg

數(shù)字式四探針測試儀 型號:SZJG01-390127庫號：M390127